EMI輻射測量的方法

     EMI電磁幹擾是一個令很多設計者頭疼的問題，即便效率達到要求，如果EMI不達標也是算不上一個合格的產品的，在之前的文章中。深圳電源IC供應商將開始講解用哪些工具發現EMI輻射。

 

     當設計者從EMI的角度看任何一款產品時，整個設計可以被看作是能量源和天線的一個集合。EMI問題的常見（但絕不是唯一）源包括：

 

     1、電源濾波器；

 

     2、地阻抗；

 

     3、沒有足夠的信號返回；

 

     4、LCD輻射；

 

     5、元件寄生參數；

 

     6、電纜屏蔽不良；

 

     7、開關電源（DC/DC轉換器）；

 

     8、內部耦合問題；

 

     9、金屬外殼中的靜電放電；

 

    10、不連續的返回路徑；

 

    為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位於特定EMI問題中心的天線，需要檢查被觀察信號的周期。信號的射頻頻率是多少？是脈衝式的還是連續的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監視。

 

    如果需要查看巧合性。待測設備（DUT）上的哪個信號與EMI事件是同時發生的？一般常見的做法是用示波器探測DUT上的電氣信號。檢查EMI問題與電氣事件的巧合性無疑是EMI排查中最耗時間的工作。將來自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關聯在一起一直是很難做的一件事。

 

    然而，混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時間相關聯的觀察和測量功能。這種儀器能夠相當容易地觀察哪個信號與哪個EMI事件同時發生，從而可以簡化EMI排查過程。

 

    混合域示波器（MDO）將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一台儀表內，可以從全部三台儀器中產生同步的而且與時間關聯的測量結果。

 

    MDO將混合信號示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合，能夠自動顯示模擬信號特征、數字時序、總線事務以及射頻並在這些信息基礎上實現觸發。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時域軌跡，包括射頻幅度對時間、射頻相位對時間以及射頻頻率對時間的關係曲線。

 

    顯示了MDO提供的時間關聯觀察功能，射頻幅度與時間的關係軌跡。

 

    從以上的內容中可以看到，對EMI電磁幹擾的排查方法不止一種。隨著技術的發展，檢測的方法雖然越來越複雜化，但依托於發展的技術，其並沒有影響到設計者的使用。